TID Tolerance of commercial 130nm CMOS Technologies for HEP experiments

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Gonella, Laura
Lenguaje:eng
Publicado: 2017
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2252791

Internet

http://cds.cern.ch/record/2252791

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