On-wafer microwave measurements and de-embedding

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Lourandakis, Errikos
Lenguaje:eng
Publicado: Artech House 2016
Materias:
Engineering
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2264352

Internet

http://cds.cern.ch/record/2264352

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