Next generation HALT and HASS: robust design of electronics and systems

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Gray, Kirk A, Paschkewitz, John J
Lenguaje:eng
Publicado: John Wiley & Sons 2016
Materias:
Engineering
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2279317

Internet

http://cds.cern.ch/record/2279317

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