Mask layout of multi-project wafer runs

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Vila, Ivan, Macchiolo, Anna
Formato: info:eu-repo/semantics/article
Lenguaje:eng
Publicado: 2017
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
7: Advanced hybrid pixel detectors
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2297361

Internet

http://cds.cern.ch/record/2297361

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