Plans for the evaluation of the TID tolerance in 65nm and below

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Faccio, Federico
Lenguaje:eng
Publicado: 2018
Materias:
SLHC
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2315392

Internet

http://cds.cern.ch/record/2315392

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