Total Ionizing Dose effects on 28nm CMOS Technology

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Enz, Christian
Lenguaje:eng
Publicado: 2018
Materias:
SLHC
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2315484

Internet

http://cds.cern.ch/record/2315484

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