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Mössbauer study of defects created by low-fluence In.suP(+) implantations in InP

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Kringhøj, P, Weyer, G
Lenguaje:eng
Publicado: 1993
Materias:
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/257753