Cargando…

US-Japan Seminar on Surface Characterization by Electron Diffraction, Reflection Electron Microscopy and Holography

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Cohen, P I, Ichimiya, A
Lenguaje:eng
Publicado: 1993
Materias:
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/258311