Software failure investigation: a near-miss analysis approach

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Eloff, Jan, Bihina Bella, Madeleine
Lenguaje:eng
Publicado: Springer 2017
Materias:
Computing and Computers
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2635223

Internet

http://cds.cern.ch/record/2635223

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