Radiation damage tests of semi-conductors

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Ohmori, C, Paoluzzi, M
Lenguaje:eng
Publicado: 2018
Materias:
Accelerators and Storage Rings
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2667048

Internet

http://cds.cern.ch/record/2667048

Ejemplares similares