Introduction to focused ion beam nanometrology

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Cox, David C
Lenguaje:eng
Publicado: Morgan & Claypool 2015
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2670949

Internet

http://cds.cern.ch/record/2670949

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