Ionizing radiation effects in nanoscale CMOS technologies exposed to ultra-high doses

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Borghello, Giulio
Lenguaje:eng
Publicado: 2019
Materias:
Engineering
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2680840

Internet

http://cds.cern.ch/record/2680840

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