Cargando…
Ionizing radiation effects in nanoscale CMOS technologies exposed to ultra-high doses
| Autor principal: | |
|---|---|
| Lenguaje: | eng |
| Publicado: |
2019
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: | http://cds.cern.ch/record/2680840 |
| Descripción no disponible. |