Fundamentals of electromigration-aware integrated circuit design

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Lienig, Jens, Thiele, Matthias
Lenguaje:eng
Publicado: Springer 2018
Materias:
Engineering
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2697918

Internet

http://cds.cern.ch/record/2697918

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