Beam profile measurements based on pixel detectors in the PS

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Sandberg, Hampus
Lenguaje:eng
Publicado: 2019
Materias:
ABP other meetings
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2699806

Internet

http://cds.cern.ch/record/2699806

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