Supervised descriptive pattern mining

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Ventura, Sebastián, Luna, José María
Lenguaje:eng
Publicado: Springer 2018
Materias:
Computing and Computers
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2710660

Internet

http://cds.cern.ch/record/2710660

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