Supervised descriptive pattern mining

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Ventura, Sebastián, Luna, José María
Lenguaje:eng
Publicado: Springer 2018
Materias:
Computing and Computers
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2710660
Descripción
Descripción no disponible.

Ejemplares similares