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SiW Ecal Compact Digital Electronics: implementation & performance in test beam

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Pöschl, R., Breton, D., Jeglot, J., Maalmi, J., Rusquart, P., Saussac, A., Thiebault, A., Bonis, J., Douillet, D., Gallas, A., Bourgeois, C., Irles, A., Zerwas, D.
Formato: info:eu-repo/semantics/article
Lenguaje:eng
Publicado: 2020
Materias:
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2717319