TCAD advanced radiation damage modelling in silicon detectors

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Morozzi, A., Moscatelli, F., Passeri, D., Bilei, G.M.
Formato: info:eu-repo/semantics/article
Lenguaje:eng
Publicado: 2020
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
7: Advanced hybrid pixel detectors
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2718231

Internet

http://cds.cern.ch/record/2718231

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