Computerized Multistage Testing

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Yan, Duanli, von Davier, Alina, Lewis, Charles
Lenguaje:eng
Publicado: Chapman and Hall/CRC 2016
Materias:
XX
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2726151

Internet

http://cds.cern.ch/record/2726151

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