Equivalence and Noninferiority Tests for Quality, Manufacturing and Test Engineers

Mostrar otras versiones (1)
Detalles Bibliográficos
Autor principal: Pardo, Scott
Lenguaje:eng
Publicado: Chapman and Hall/CRC 2013
Materias:
XX
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2726253

Internet

http://cds.cern.ch/record/2726253

Ejemplares similares