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Beam effects, surface topography, and depth profiling in surface analysis

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Czanderna, Alvin W, Powell, Cedric J, Madey, Theodore E
Lenguaje:eng
Publicado: Springer 1998
Materias:
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2727256