Patterns in the Machine: A Software Engineering Guide to Embedded Development

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Taylor, John, Taylor, Wayne
Lenguaje:eng
Publicado: Apress 2021
Materias:
XX
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2751850

Internet

http://cds.cern.ch/record/2751850

Ejemplares similares