Pattern recognition: 7th Chinese conference, CCPR 2016, Chengdu, China, November 5-7, 2016, proceedings, part I

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Tan, Tieniu, Li, Xuelong, Chen, Xilin, Zhou, Jie, Yang, Jian, Cheng, Hong
Lenguaje:eng
Publicado: Springer Singapore Pte Limited 2016
Materias:
XX
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2761775

Internet

http://cds.cern.ch/record/2761775

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