Quality check of the cut of silicon wafers for the SMD detector

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Ionica, M, Pauluzzi, M, Postolache, V
Lenguaje:eng
Publicado: 1995
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/277246

Internet

http://cds.cern.ch/record/277246

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