Total-dose effects of $\gamma$-ray irradiation on SOI-MOS transistors

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Matsushita, T, Fukunaga, C, Ikeda, H, Saitô, Y
Lenguaje:eng
Publicado: 1995
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/285381

Internet

http://cds.cern.ch/record/285381

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