Test on radiation damage to pin diodes

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Paoluzzi, M
Lenguaje:eng
Publicado: 1985
Materias:
Accelerators and Storage Rings
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2854050

Internet

http://cds.cern.ch/record/2854050

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