Applications of Mössbauer spectroscopy to characterize highly-doped semiconductors

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Weyer, G
Lenguaje:eng
Publicado: 1988
Materias:
Other Fields of Physics
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/286693

Internet

http://cds.cern.ch/record/286693

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