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Low fluence implantations in GaAs: a Mössbauer spectroscopy investigation of individual and overlapping damage cascade

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Andreasen, H, Petersen, J W, Weyer, G
Lenguaje:eng
Publicado: 1990
Materias:
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/286696