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Caractérisation de la résistance aux radiations du silicium monocristallin de type N de haute pureté et haute résistivité: application au développement de détecteurs à pixels pour l'expérience ATLAS auprès du collisionneur LHC

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Arrighi, C
Lenguaje:fre
Publicado: Aix-Marseille 2 1995
Materias:
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/292751