Cargando…
Caractérisation de la résistance aux radiations du silicium monocristallin de type N de haute pureté et haute résistivité: application au développement de détecteurs à pixels pour l'expérience ATLAS auprès du collisionneur LHC
Autor principal: | Arrighi, C |
---|---|
Lenguaje: | fre |
Publicado: |
Aix-Marseille 2
1995
|
Materias: | |
Acceso en línea: | http://cds.cern.ch/record/292751 |
Ejemplares similares
-
Participation à l'expérience DELPHI auprès du collisionneur LEP du CERN
por: Ledroit-Guillon, F
Publicado: (2002) -
Développement de chambres à dérive pour les hauts flux dans l’expérience COMPASS
por: Pereira Da Costa, Hugo
Publicado: (2001) -
Le système de monitoring de haute précision du calorimètre électromagnétique de l'expérience L3
por: Ossmann, Jean
Publicado: (1989) -
Développement de services de monitoring et de haute disponibilité pour le système de contrôle de l'expérience LHCb
por: Lepinette, M
Publicado: (2009) -
Caracterisation haute frequence du cable coaxial KAP50-5 pour ultra vide
por: Durand, J
Publicado: (1998)