Defects studies in high-energy ion implanted semiconductors

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Weyer, G, Bonde-Nielsen, K, Fanciulli, M
Lenguaje:eng
Publicado: 1994
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/298215

Internet

http://cds.cern.ch/record/298215

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