Radiation hardness of silicon detectors manufactured on wafers from various sources

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Dezillie, B, Bates, S, Glaser, M, Lemeilleur, F, Leroy, C
Lenguaje:eng
Publicado: 1996
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.1016/S0168-9002(97)00005-3
http://cds.cern.ch/record/305980
Descripción
Descripción no disponible.

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