20th International Conference on Defects in Semiconductors

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Van de Walle, Chris G, Walukiewicz, W
Lenguaje:eng
Publicado: 1999
Materias:
Condensed Matter
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/389763

Internet

http://cds.cern.ch/record/389763

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