Deep level defects in semiconductor detectors

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Lutz, Gerhard
Lenguaje:eng
Publicado: 1995
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/391205

Internet

http://cds.cern.ch/record/391205

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