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Resolution degradation in X-ray detectors based on superconducting tunnel junctions

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Den Hartog, R, Verhoeve, P, Peacock, A, Poelaert, A, Rando, N
Lenguaje:eng
Publicado: 1998
Materias:
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/394751