Investigation of deep-level Fe-centres in silicon by Mössbauer spectroscopy

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Weyer, G
Lenguaje:eng
Publicado: 1999
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/410416

Internet

http://cds.cern.ch/record/410416

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