FPGA design in the presence of single event upsets

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Meggyesi, Z, Van der Bij, Erik, McLaren, R A
Lenguaje:eng
Publicado: CERN 1999
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.5170/CERN-1999-009.489
http://cds.cern.ch/record/436793

Internet

https://dx.doi.org/10.5170/CERN-1999-009.489
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