Effect of actual cabling pattern on the critical current of a multistage CIC

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Schild, T, Ciazynski, D, Court, S
Lenguaje:eng
Publicado: 1999
Materias:
Engineering
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/440777

Internet

http://cds.cern.ch/record/440777

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