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X-ray scattering from soft-matter thin films: materials science and basic research

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Tolan, Metin
Lenguaje:eng
Publicado: Springer 1999
Materias:
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.1007/BFb0112834
http://cds.cern.ch/record/445084