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High-resolution x-ray scattering from thin films and multilayers

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Holy, V, Baumbach, T, Pietsch, U
Lenguaje:eng
Publicado: Springer 1999
Materias:
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.1007/BFb0109385
http://cds.cern.ch/record/445085