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Critical phenomena at surfaces and interfaces: evanescent X-ray and neutron scattering

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Dosch, Helmut
Lenguaje:eng
Publicado: Springer 1992
Materias:
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.1007/BFb0045209
http://cds.cern.ch/record/445932