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Total dose and single event effects (SEE) in a $0.25-\mu-m$ CMOS technology
Autores principales: | , , , , , , , , , , , , , , |
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Lenguaje: | eng |
Publicado: |
1999
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Materias: | |
Acceso en línea: | http://cds.cern.ch/record/446352 |