Accelerated testing: statistical models, test plans, and data analyses

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Nelson, Wayne
Lenguaje:eng
Publicado: Wiley 1990
Materias:
Mathematical Physics and Mathematics
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/500318

Internet

http://cds.cern.ch/record/500318

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