Ionizing radiation effects in MOS devices and circuits

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Dressendorfer, Paul V, Ma, T P
Lenguaje:eng
Publicado: Wiley 1989
Materias:
Engineering
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/515119

Internet

http://cds.cern.ch/record/515119

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