An introduction to surface analysis by XPS and AES

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Watts, J F, Wolstenholme, John
Lenguaje:eng
Publicado: Wiley 2002
Materias:
Engineering
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/580981

Internet

http://cds.cern.ch/record/580981

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