An introduction to surface analysis by XPS and AES

Mostrar otras versiones (1)
Detalles Bibliográficos
Autores principales: Watts, J F, Wolstenholme, John
Lenguaje:eng
Publicado: Wiley 2002
Materias:
Engineering
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/580981
Descripción
Descripción no disponible.

Ejemplares similares