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Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures: an analysis of composition and strain state

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Rosenauer, Andreas
Lenguaje:eng
Publicado: Springer 2003
Materias:
Acceso en línea:https://dx.doi.org/10.1007/3-540-36407-2
http://cds.cern.ch/record/608417