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Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures: an analysis of composition and strain state
| Autor principal: | |
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| Lenguaje: | eng |
| Publicado: |
Springer
2003
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| Materias: | |
| Acceso en línea: | https://dx.doi.org/10.1007/3-540-36407-2 http://cds.cern.ch/record/608417 |
| Descripción no disponible. |