Letter of interest: hyperfine structure measurements at sin using ABMR techniques

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Ekström, C, Lindgren, I, Robertsson, L
Lenguaje:eng
Publicado: 1980
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/679375

Internet

http://cds.cern.ch/record/679375

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